Hyperstone merilis teknologi FlashXE untuk keandalan maksimum 3D NAND
Dengan peluncuran pengontrol SSD berdaya rendah X1 terbaru dari Hyperstone, hadir pula rilis teknologi terbaru Hyperstone – FlashXE eXtended Endurance. FlashXE adalah rangkaian fitur yang terdiri dari kalibrasi ekstensif, pemulihan koreksi kesalahan, penghindaran kesalahan, dan mekanisme penyegaran untuk memastikan keandalan maksimum sistem penyimpanan berbasis flash NAND. Karena biaya memori flash NAND berkurang karena kepadatan yang lebih tinggi dan teknologi baru seperti 3D NAND telah memasuki pasar, teknologi dan algoritme yang diperlukan untuk mengelola media ini perlu ditingkatkan. Akibatnya, koreksi kesalahan dan persyaratan manajemen flash yang kompleks tidak pernah setinggi ini. Ekosistem FlashXE mengatasi masalah ini melalui lingkungan dengan fitur, mekanisme, dan algoritme yang berbeda untuk mencegah, mendeteksi, dan memperbaiki kesalahan.
Kumpulan fitur dan proses mulai dioptimalkan jauh sebelum kesalahan terjadi atau bahkan sistem dirakit. Proses kualifikasi mencirikan setiap jenis lampu kilat yang didukung selama masa pakainya dan suhu pengoperasian yang berbeda. Pengetahuan ini kemudian diimplementasikan dalam dukungan flash dasar dari firmware dan dikirimkan dengan pengontrol. Fase berikutnya, selama operasi, memastikan pengontrol terus menyesuaikan level tegangan sirkuit pembacaan selama masa pakai blitz. Pengontrol juga mengambil langkah lebih lanjut untuk mencegah kesalahan seperti penyegaran data dinamis, ECC nyaris celaka, dan manajemen gangguan baca. Pada fase berikutnya, di mana kesalahan terjadi terlepas dari tindakan pencegahan yang disebutkan sebelumnya, ada koreksi kesalahan yang kuat dalam dua modul terpisah, satu didasarkan pada kode BCH serta kode gabungan umum baru dengan dukungan untuk decoding lunak. .
Kolektif FlashXE tersedia dengan pengontrol flash terbaru Hyperstone, X1. X1 adalah pengontrol SSD berdaya rendah yang sangat efisien untuk solusi penyimpanan berbasis flash NAND yang tangguh dan menuntut industri.
