Sirkuit Mikrostrip dan Sistem Karakterisasi Material

Mengkarakterisasi film superkonduktor mikrostrip pada frekuensi gelombang milimeter sulit dilakukan tanpa melalui proses fabrikasi film tipis yang kompleks. Karakterisasi ini mencakup pengukuran kehilangan ohmik pada resolusi 10100 bagian per juta (ppm).

Biasanya, mengkarakterisasi film superkonduktor mikrostrip menggunakan bolometer yang digabungkan antena sebagai bagian dari struktur film superkonduktor. Bolometer adalah komponen yang mengukur radiasi elektromagnetik yang terjadi melalui pemanasan material dengan hambatan listrik yang bergantung pada suhu; namun, proses ini tidak menguntungkan karena detektor tertanam, seperti bolometer, membuat proses fabrikasi film superkonduktor menjadi lebih sulit. Proses ini juga membutuhkan berbagai komponen gelombang milimeter, yang semakin memperumit fabrikasi film. Selain itu, karakterisasi film superkonduktor memerlukan peralatan khusus dan dapat bervariasi di antara berbagai proses fabrikasi.

Sirkuit Mikrostrip dan Sistem Karakterisasi Material dapat mengukur kehilangan ohmik film superkonduktor pada frekuensi gelombang milimeter menggunakan penganalisis jaringan vektor (VNA) yang mengukur sifat amplitudo dan fase dari parameter jaringan film.

Sistem ini terdiri dari struktur pandu gelombang dua port. Port digunakan untuk mengirim dan menerima daya gelombang milimeter masuk dan keluar dari film superkonduktor. Struktur pandu gelombang digunakan untuk mengubah impedansi karakteristik pandu gelombang menjadi impedansi saluran mikrostrip pada rentang frekuensi yang luas untuk melakukan kontak dengan film superkonduktor. Film superkonduktor berisi resonator garis mikrostrip yang dapat digunakan untuk mengukur rugi-rugi ohmik dan konstanta dielektrik efektif pada berbagai frekuensi.

Sistem berfungsi dengan menghubungkan ke pemancar dan penerima gelombang milimeter. Sistem ini digunakan untuk mengukur kehilangan transmisi sampel saluran mikrostrip. Untuk pengukuran film mikrostrip superkonduktor, perangkat perlu didinginkan di bawah suhu kritis superkonduktor untuk mengukur kehilangan ohmik film dan konstanta propagasi saluran transmisi. Sistem ini dapat digunakan untuk mengukur kerugian pada saluran mikrostrip serendah 10 ppm dan dapat dioperasikan dalam rentang suhu dari 0 K hingga 320 K.

NASA secara aktif mencari pemegang lisensi untuk mengkomersialkan teknologi ini. Silakan hubungi NASA's Licensing Concierge di Alamat email ini dilindungi dari robot spam. Anda perlu mengaktifkan JavaScript untuk melihatnya. atau hubungi kami di 202-358-7432 untuk memulai diskusi lisensi. Ikuti tautan ini di sini untuk informasi lebih lanjut .