Sistem Karakterisasi Rangkaian Microstrip Presisi dan Material untuk Film Superkonduktor
Karakterisasi film superkonduktor microstrip pada frekuensi gelombang milimeter sulit tanpa melalui proses pembuatan tipis film yang kompleks. Karakterisasi ini termasuk pengukuran kerugian ohmik pada resolusi 10100 bagian per juta (ppm).
Biasanya, karakterisasi film superkonduktor microstrip menggunakan bolometer terpadu antena sebagai bagian dari struktur film superkonduktor. Bolometer adalah komponen yang mengukur radiasi elektromagnetik yang datang melalui pemanasan material dengan resistansi listrik yang bergantung pada suhu; namun, proses ini merugikan karena detektor yang tertanam, seperti bolometer, membuat proses pembuatan film superkonduktor lebih sulit. Proses ini juga membutuhkan berbagai komponen gelombang milimeter, yang lebih menyulitkan pembuatan film. Selain itu, karakterisasi film superkonduktor memerlukan peralatan khusus dan dapat bervariasi di antara berbagai proses pembuatan.
Sistem Karakterisasi Rangkaian Microstrip dan Material dapat mengukur kerugian ohmik film superkonduktor pada frekuensi gelombang milimeter menggunakan analyzer jaringan vektor (VNA) yang mengukur properti amplitudo dan fase dari parameter jaringan film.
Sistem ini terdiri dari struktur gelombang dua port. Port digunakan untuk mentransmisikan dan menerima daya gelombang milimeter ke dalam dan keluar dari film superkonduktor. Struktur gelombang digunakan untuk mengubah impedansi karakteristik gelombang menjadi impedansi garis microstrip pada rentang frekuensi yang luas untuk membuat kontak dengan film superkonduktor. Film superkonduktor berisi resonator garis microstrip yang dapat digunakan untuk mengukur kerugian ohmik dan konstanta dielektrik efektif pada berbagai frekuensi.
Sistem berfungsi dengan terhubung ke pengirim dan penerima gelombang milimeter. Sistem digunakan untuk mengukur kerugian transmisi sampel garis microstrip. Untuk pengukuran film microstrip superkonduktor, perangkat harus didinginkan di bawah suhu kritis superkonduktor untuk mengukur kerugian ohmik film dan konstanta propagasi garis transmisi. Sistem dapat digunakan untuk mengukur kerugian pada garis microstrip sekecil 10 ppm dan dapat dioperasikan dalam rentang suhu dari 0 K hingga 320 K.
NASA secara aktif mencari lisensi untuk mengkomersialkan teknologi ini. Silakan hubungi Konsier Lisensi NASA di This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it. atau hubungi kami di 202-358-7432 untuk memulai diskusi lisensi. Ikuti tautan ini untuk informasi lebih lanjut.
